使用(yong)真空衰變(bian)法(fa)無(wu)損檢驗包裝(zhuang)緊密性的標準試(shi)驗方(fang)法(fa)

1　范圍

1.1　試(shi)驗包裝(zhuang)—可以采用(yong)本方法進行無(wu)損檢測的包裝(zhuang)包括(kuo)：

1.1.1　 硬(ying)(ying)質及半硬(ying)(ying)質無蓋包裝托盤。

1.1.2　帶有多孔(kong)擋層蓋的包裝托盤或包裝杯。

1.1.3　硬質無孔包(bao)裝。

1.11.4　軟質無孔包(bao)裝（見1.2.4）。

1.2　緊(jin)密性(xing)檢(jian)測—本試(shi)驗(yan)方法(fa)可(ke)通過使用檢(jian)漏儀絕對壓(ya)力傳(chuan)感(gan)器(qi)(qi)(qi)或壓(ya)差(cha)傳(chuan)感(gan)器(qi)(qi)(qi)進行包(bao)裝(zhuang)緊(jin)密型(xing)(xing)檢(jian)測。試(shi)驗(yan)的(de)靈敏度取決(jue)于傳(chuan)感(gan)器(qi)(qi)(qi)的(de)靈敏度、包(bao)裝(zhuang)的(de)設計、包(bao)裝(zhuang)試(shi)驗(yan)夾具的(de)設計以(yi)及時(shi)間壓(ya)力等(deng)臨界技術參數。各種(zhong)包(bao)裝(zhuang)體系檢(jian)測的(de)泄漏處的(de)類型(xing)(xing)和大小以(yi)及試(shi)驗(yan)靈敏度在(zai)后文中有所(suo)闡述。這些數據是基(ji)于靈敏度與(yu)偏差(cha)理(li)論(lun)確定的(de)。

1.2.1　無蓋包裝(zhuang)托(tuo)盤(pan)或包裝(zhuang)杯(bei)——可(ke)以使(shi)用絕對壓力(li)傳感器在(zai)4*104 Pa的(de)目標真空度下(xia)檢(jian)測出直徑至少50μm以內的(de)包裝(zhuang)托(tuo)盤(pan)/包裝(zhuang)杯(bei)壁(bi)的(de)漏洞(dong)或裂縫缺陷。

1.2.2　帶(dai)有(you)多(duo)孔擋層蓋的(de)包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)托盤或(huo)包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)杯——可以(yi)檢測出直徑(jing)至少100μm以(yi)內的(de)包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)托盤/包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)杯壁的(de)漏洞或(huo)裂縫(feng)缺(que)陷、密(mi)封區域（采用(yong)直徑(jing)125μm的(de)金屬絲(si)制成(cheng)）的(de)溝(gou)槽缺(que)陷以(yi)及膠(jiao)(jiao)粘(zhan)劑連續膠(jiao)(jiao)接(jie)(jie)和點(dian)陣膠(jiao)(jiao)接(jie)(jie)包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)系統的(de)一些密(mi)封膠(jiao)(jiao)接(jie)(jie)缺(que)陷，也可檢測出一些輕微的(de)不完整的(de)膠(jiao)(jiao)粘(zhan)劑點(dian)陣膠(jiao)(jiao)接(jie)(jie)缺(que)陷。可使用(yong)絕對(dui)壓(ya)力傳感器在4*104 Pa (400 mbar)的(de)目標真空度下檢測所有(you)的(de)多(duo)孔阻擋層帶(dai)蓋包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)。通過使用(yong)校準的(de)容積式空氣(qi)流量計測量，多(duo)孔帶(dai)蓋包(bao)(bao)(bao)裝(zhuang)的(de)試驗靈敏度接(jie)(jie)近10-2 Pa·m3·s-1。

1.2.3　硬(ying)質無孔(kong)(kong)包(bao)裝：可以(yi)檢測(ce)出直徑至(zhi)少5μm的漏(lou)洞(dong)缺(que)陷。可使用(yong)差壓傳感器在5*104 Pa (500 mbar)的目標真空(kong)度(du)下檢測(ce)所(suo)有的硬(ying)質無孔(kong)(kong)包(bao)裝。通過使用(yong)校(xiao)準的容(rong)積式空(kong)氣流量計(ji)測(ce)量，硬(ying)質無孔(kong)(kong)包(bao)裝的試驗靈敏(min)度(du)接近10-4 Pa·m3·s-1。

1.2.4　軟質無(wu)孔包裝(zhuang)——這類包裝(zhuang)也可(ke)以使用(yong)真空衰減法(fa)通過絕對壓力傳感器或差壓傳感器進行試(shi)(shi)驗(yan)(yan)。要根據所需的(de)緊(jin)密性試(shi)(shi)驗(yan)(yan)靈敏(min)度(du)(du)選擇(ze)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)儀器。盡(jin)管使用(yong)真空衰減法(fa)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)此類包裝(zhuang)被廣泛認可(ke)，但精度(du)(du)與偏差的(de)研究仍然不采納軟質包裝(zhuang)的(de)靈敏(min)度(du)(du)數(shu)據。

1.3　試驗(yan)結(jie)果(guo)——試驗(yan)結(jie)果(guo)是定性(xing)的(de)(de)，或(huo)(huo)者接(jie)收，或(huo)(huo)者拒(ju)收。試驗(yan)結(jie)果(guo)的(de)(de)驗(yan)收準則是根據無泄漏對照包裝的(de)(de)定量基(ji)準真空衰(shuai)減值確立的(de)(de)。

1.4　標準(zhun)值單(dan)位：本試(shi)驗方法中的數值采(cai)用公制單(dan)位，視(shi)作標準(zhun)單(dan)位。括號(hao)中的數值僅供參(can)考(kao)。

1.5　安(an)(an)全事(shi)項不(bu)會(hui)在(zai)本標準中論及, 盡管使用(yong)(yong)本標準時有可(ke)能(neng)會(hui)遇到。 使用(yong)(yong)本標準之(zhi)人士, 有責(ze)任訂立適當的(de)安(an)(an)全及健康規范, 并(bing)在(zai)使用(yong)(yong)前(qian)評估是否(fou)符合有關條例。

2　規范性引用文件

ASTM D 996 包裝及分配環境的術語(yu)

ASTM E 691 測定(ding)試驗方法(fa)精密性(xing)進行試驗室間研究的(de)標(biao)準(zhun)規(gui)范

ASTM F 17 與軟質阻(zu)擋層材料相關的(de)術(shu)語(yu)定義(yi)

ASTM F 1327 醫療(liao)包裝用屏(ping)障材料相關術語3

3　術語和定義

3.1　 

基準真空衰減

隨著時間的變化，一無泄漏對照包裝在試驗腔內發生的真空度變化的范圍。

3.2　 

無泄漏對照包裝

無(wu)缺陷的包裝，按照說明書要求(qiu)*密封。

3.3　 

軟質無孔包裝

由具有延(yan)展性的無孔材料制(zhi)成(cheng)，在真空環境下發生明顯撓曲的包(bao)裝(zhuang)。例(li)如：聚合薄(bo)(bo)膜(mo)(mo)、箔(bo)膜(mo)(mo)或復(fu)合薄(bo)(bo)膜(mo)(mo)制(zhi)成(cheng)的包(bao)裝(zhuang)袋。

3.4　 

硬質無孔包裝

由硬質(zhi)無(wu)孔材料制成(cheng)，在真空環境下(xia)無(wu)明(ming)顯(xian)撓曲(qu)的(de)包裝(zhuang)。例如：帶有螺紋瓶(ping)蓋(gai)或卡扣(kou)瓶(ping)蓋(gai)的(de)塑料瓶(ping)，屬(shu)于硬質(zhi)無(wu)孔包裝(zhuang)。

3.5　 

半硬質包(bao)裝(zhuang)托(tuo)盤或包(bao)裝(zhuang)杯

由撓曲(qu)后仍(reng)保持其原(yuan)來形(xing)狀的(de)材料制成。例如：加熱成型的(de)PETE或 PETG托盤(pan)屬于(yu)半硬質托盤(pan)。

3.6　 

分點密封

包(bao)裝(zhuang)托(tuo)盤或包(bao)裝(zhuang)杯與多孔(kong)包(bao)裝(zhuang)蓋之間的(de)部分膠接，在除去包(bao)裝(zhuang)蓋后，在包(bao)裝(zhuang)托(tuo)盤密封面上可見明顯的(de)膠點。

3.7　

容積式空氣流量計

一個用(yong)(yong)來為(wei)試(shi)驗腔提供已知容積(ji)空(kong)氣流量的(de)人為(wei)泄漏(lou)的(de)校準(zhun)工具，用(yong)(yong)于驗證儀器的(de)靈敏度(du)。空(kong)氣流量計(ji)應(ying)按(an)照(zhao)NIST標準(zhun)校準(zhun)。流量計(ji)的(de)操(cao)作(zuo)范圍應(ying)反映出要進行的(de)緊(jin)密性試(shi)驗的(de)目標靈敏度(du)極(ji)限(xian)。

3.8　 

試(shi)驗周期(qi)和臨界參數(shu)定義

涉(she)及到確立接收(shou)與拒收(shou)界限的試驗(yan)周(zhou)期和臨(lin)界參(can)數的術(shu)語及縮寫請參(can)照(zhao)附錄A1。

4　試驗方法綜述

4.1　將受測包(bao)裝(zhuang)(zhuang)放入真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)的(de)試驗腔(qiang)(qiang)內(nei)。而(er)后試驗腔(qiang)(qiang)與真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)源隔離，使(shi)用絕(jue)對壓(ya)力傳(chuan)感(gan)器或差壓(ya)傳(chuan)感(gan)器監測真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)度(du)及(ji)真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)度(du)隨著時間的(de)變化情況。試驗腔(qiang)(qiang)內(nei)壓(ya)力的(de)真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)衰(shuai)減與上升即(ji)說明包(bao)裝(zhuang)(zhuang)的(de)上層氣(qi)體發(fa)生泄漏，這一過程存在一定的(de)本底(di)噪音。密閉性(xing)檢測要求真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)衰(shuai)減值(zhi)大于本底(di)噪聲(sheng)級別。暴露于真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)環境時發(fa)生的(de)包(bao)裝(zhuang)(zhuang)膨脹（軟質(zhi)或半硬質(zhi)包(bao)裝(zhuang)(zhuang)）或者試驗腔(qiang)(qiang)/試驗系統內(nei)的(de)固有氣(qi)體可能導致本底(di)噪聲(sheng)的(de)真(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)空(kong)衰(shuai)減。

4.2　對帶(dai)有阻隔蓋(gai)(gai)的多(duo)(duo)孔(kong)包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)托(tuo)(tuo)(tuo)盤(pan)或包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)杯進(jin)(jin)行(xing)試驗，以(yi)便檢測(ce)在(zai)(zai)包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)托(tuo)(tuo)(tuo)盤(pan)或包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)杯內(nei)、以(yi)及(ji)包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)蓋(gai)(gai)/包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)托(tuo)(tuo)(tuo)盤(pan)密封連(lian)接處(chu)的泄漏。多(duo)(duo)孔(kong)包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)蓋(gai)(gai)本身的泄漏無法檢測(ce)。在(zai)(zai)對這些包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)進(jin)(jin)行(xing)檢測(ce)時，要對多(duo)(duo)孔(kong)阻擋層表(biao)面進(jin)(jin)行(xing)在(zai)(zai)物理掩蔽或封堵(du)，以(yi)便防止(zhi)包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)內(nei)氣(qi)體(ti)通(tong)過多(duo)(duo)孔(kong)蓋(gai)(gai)泄漏。在(zai)(zai)這些步驟中，可能(neng)(neng)需(xu)要準備(bei)一些試樣，具體(ti)還是要取決于(yu)所需(xu)的掩蔽方(fang)法，但要確保無損檢測(ce)。多(duo)(duo)孔(kong)擋層帶(dai)蓋(gai)(gai)包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)的真空衰減可能(neng)(neng)潛在(zai)(zai)的包(bao)(bao)含氣(qi)體(ti)通(tong)過包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)蓋(gai)(gai)和(he)掩蔽面之間時產生(sheng)(sheng)的本底噪聲(sheng)或者包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)蓋(gai)(gai)/托(tuo)(tuo)(tuo)盤(pan)密封連(lian)接處(chu)多(duo)(duo)孔(kong)阻擋層材料本身的氣(qi)體(ti)橫向(xiang)流動產生(sheng)(sheng)的本底噪聲(sheng)。

4.3　采用(yong)真空衰變法進行的(de)(de)(de)緊密性(xing)試(shi)驗(yan)的(de)(de)(de)靈(ling)(ling)敏(min)(min)度(du)(du)是幾個因數(shu)的(de)(de)(de)集合(he)。使用(yong)更靈(ling)(ling)敏(min)(min)的(de)(de)(de)壓力傳感(gan)器或者延(yan)長試(shi)驗(yan)時間(jian)都可(ke)以檢(jian)(jian)測出微(wei)小(xiao)的(de)(de)(de)泄漏。同樣，減(jian)小(xiao)測試(shi)包(bao)裝與(yu)試(shi)驗(yan)腔(qiang)之間(jian)的(de)(de)(de)空隙(xi)體(ti)積(ji)以及采用(yong)較小(xiao)體(ti)積(ji)的(de)(de)(de)試(shi)驗(yan)系統都可(ke)以更為容易的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測到壓力的(de)(de)(de)變化。減(jian)少本(ben)(ben)底噪(zao)音的(de)(de)(de)舉(ju)措也可(ke)以增加試(shi)驗(yan)的(de)(de)(de)靈(ling)(ling)敏(min)(min)度(du)(du)。例如：在對(dui)多孔擋層(ceng)帶蓋包(bao)裝進行檢(jian)(jian)測時，更為有效的(de)(de)(de)掩蔽技術可(ke)以將本(ben)(ben)地噪(zao)聲(sheng)降至低。

注： 更多關(guan)于“檢漏原理(li)”的信息(xi)見附錄(lu)A1.

5　意義與用途

5.1　醫(yi)療器材(cai)、藥品與(yu)食品包(bao)裝(zhuang)(zhuang)的(de)泄漏(lou)可能(neng)會導致有(you)害氣體（通(tong)常是(shi)氧氣）、有(you)害微生(sheng)物或(huo)顆粒污染物的(de)進(jin)入(ru)。包(bao)裝(zhuang)(zhuang)零件(jian)本身(shen)的(de)不完整性(xing)(xing)或(huo)者組合的(de)包(bao)裝(zhuang)(zhuang)零件(jian)的(de)密封連接處可能(neng)產生(sheng)包(bao)裝(zhuang)(zhuang)泄漏(lou)。檢漏(lou)能(neng)力是(shi)確保包(bao)裝(zhuang)(zhuang)完整性(xing)(xing)與(yu)一(yi)致性(xing)(xing)的(de)必要(yao)因素。

5.2　在完成(cheng)最初(chu)的(de)配置與校準之后，單獨的(de)試驗操作(zuo)可以(yi)通過半自動(dong)、自動(dong)或(huo)手動(dong)的(de)方(fang)式進行。本試驗方(fang)法可用于不明(ming)顯泄漏(lou)(lou)處(chu)的(de)無損檢測(ce)。本試驗方(fang)法無需引入任(ren)何其他的(de)材料(liao)或(huo)物質，比(bi)如染料(liao)或(huo)者(zhe)氣體。然(ran)而，在試驗過程中，對多孔擋層表面(mian)進行物理掩(yan)蔽或(huo)封堵是很重要的(de)，這樣可以(yi)防止氣體通過多孔表面(mian)泄漏(lou)(lou)而造成(cheng)的(de)腔內真(zhen)空(kong)度迅速下(xia)降。在真(zhen)空(kong)條件(jian)下(xia)掩(yan)蔽良好的(de)包裝(zhuang)可能(neng)存在氣體泄漏(lou)(lou)，檢漏(lou)(lou)僅(jin)僅(jin)是依(yi)靠試驗腔內的(de)壓(ya)力變化進行。

5.3　本試(shi)驗(yan)是優化包裝(zhuang)密封參數、對比評估各(ge)種包裝(zhuang)盒材料的(de)(de)一個實用研究工具。作為(wei)一種快速的(de)(de)無損檢測方(fang)法(fa)，本試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)同(tong)樣(yang)適用于(yu)生產裝(zhuang)置，因此，這種方(fang)法(fa)既適用于(yu)*聯機測試(shi)，同(tong)樣(yang)也可用于(yu)生產過程(cheng)中統計抽樣(yang)的(de)(de)試(shi)驗(yan)。

5.4　真空衰減試驗(yan)中超(chao)過容許(xu)極(ji)限的泄(xie)漏(lou)試驗(yan)結(jie)果(guo)可以通過聲音信號或視覺信號（或二(er)者同時）表示出(chu)來。

6　儀器

6.1　真空衰減(jian)泄漏(lou)檢測器：MLT-V100普(pu)創(chuang)微泄漏(lou)無損密(mi)封測試儀

整個(ge)的(de)(de)真(zhen)空(kong)(kong)衰減試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)系(xi)統(tong)包(bao)(bao)含一(yi)(yi)(yi)個(ge)下隔（下部裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)置(zhi)）的(de)(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)腔，用于放置(zhi)受測包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)，以及一(yi)(yi)(yi)個(ge)上蓋（上部裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)置(zhi)），用于封閉(bi)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)腔。圖(tu)一(yi)(yi)(yi)中是(shi)用于試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)多(duo)孔(kong)擋(dang)層帶蓋包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)的(de)(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)腔。試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)夾具上蓋由在(zai)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)過程中隱蔽包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)多(duo)孔(kong)阻擋(dang)層的(de)(de)軟(ruan)囊(nang)(nang)構(gou)成。圖(tu)一(yi)(yi)(yi)中是(shi)用于試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)硬(ying)質無(wu)孔(kong)包(bao)(bao)裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)的(de)(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)腔，因(yin)此無(wu)需(xu)軟(ruan)囊(nang)(nang)。在(zai)兩個(ge)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)腔的(de)(de)設計(ji)(ji)中，試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)腔都與(yu)真(zhen)空(kong)(kong)衰減測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)系(xi)統(tong)相連。系(xi)統(tong)包(bao)(bao)含一(yi)(yi)(yi)個(ge)在(zai)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)周期(qi)開始時在(zai)腔內創造(zao)真(zhen)空(kong)(kong)環境的(de)(de)真(zhen)空(kong)(kong)源，以及一(yi)(yi)(yi)個(ge)在(zai)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)周期(qi)內監測真(zhen)空(kong)(kong)度及壓力(li)(li)隨時間(jian)的(de)(de)變化(hua)情況的(de)(de)絕對壓力(li)(li)傳感器或(huo)壓差傳感器可能在(zai)系(xi)統(tong)中嵌(qian)入一(yi)(yi)(yi)個(ge)已校準的(de)(de)容積(ji)式空(kong)(kong)氣流量計(ji)(ji)，用于檢(jian)驗(yan)(yan)(yan)(yan)緊密性(xing)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)的(de)(de)靈敏性(xing)。 

6.2　托盤座或下部裝置(zhi)

試(shi)驗腔的下部分采用立體(ti)設計，以便放置受測(ce)(ce)包裝，便于受測(ce)(ce)包裝周(zhou)(zhou)圍的氣(qi)體(ti)流動(dong)。如果包裝周(zhou)(zhou)圍無需氣(qi)體(ti)流動(dong)，可(ke)以封堵泄(xie)漏點。由于在較大的試(shi)驗腔體(ti)積內，包裝泄(xie)漏的真空(kong)衰減會(hui)被降(jiang)至低，因此(ci)，試(shi)驗腔與受測(ce)(ce)包裝的間隙越大，緊密性(xing)試(shi)驗的靈(ling)敏度越低。

6.3　上蓋或上部裝置(zhi)

上部裝置用于(yu)在真空周期內密封試驗腔。

6.4　掩蔽或封堵

在(zai)(zai)試(shi)驗期間對，必須掩蔽(bi)或封堵包(bao)裝的多(duo)孔(kong)擋層(ceng)蓋(gai)，以便將擋蓋(gai)處的氣體泄漏降至低。可(ke)以采用(yong)各種掩蔽(bi)技術，包(bao)括在(zai)(zai)上部裝置內采用(yong)一個(ge)帶有軟囊的試(shi)驗腔（見圖一）。

6.5　容積(ji)式空(kong)氣(qi)流量(liang)計

在試驗(yan)腔內放置(zhi)一臺容(rong)積(ji)式空氣(qi)流量(liang)計(ji)，用于(yu)引入可以改變的人(ren)為(wei)泄漏(lou)。建議使用容(rong)積(ji)式空氣(qi)流量(liang)計(ji)檢驗(yan)緊密性試驗(yan)參數的靈(ling)敏度。

注： 更多關于檢驗緊(jin)密(mi)性試驗靈敏(min)度的容積式空氣流量計的使用(yong)信息見(jian)附錄A2.

7　事故

在封(feng)閉(bi)試驗腔的過程中(zhong)，可能產生夾手事故。

8　儀器準備

8.1　必(bi)須按照廠家說明書啟動、預熱(re)及準備試驗儀(yi)器。

根據廠(chang)家說明書，儀器的運(yun)行需要一個電(dian)源及干燥(zao)的無油(you)壓縮空氣。

9　校準與標準化

9.1　在進(jin)行(xing)試驗測量之(zhi)前(qian)，設備必須(xu)經(jing)過校準。必須(xu)根據廠家的建議步(bu)驟(zou)及維護(hu)時間(jian)表(biao)對(dui)壓力傳(chuan)感器、真空源壓力表(biao)及可調容積式空氣流(liu)量計(ji)進(jin)行(xing)校準。

9.2　要(yao)根據每個(ge)包(bao)裝/試驗夾(jia)具組合進行(xing)臨界試驗參(can)數的設(she)置。基(ji)于試驗包(bao)裝的幾何結構及任(ren)何多孔阻擋層表面固有的孔隙(xi)度，參(can)數將(jiang)發(fa)生變化。

注： 臨(lin)界(jie)試驗(yan)參數的說(shuo)明見第4節和附錄A1.

9.3　必須使(shi)用(yong)(yong)無(wu)泄漏包裝的(de)對照試(shi)樣以便(bian)選取和優化試(shi)驗參數。對照包裝需采用(yong)(yong)同樣材料按照受(shou)測包裝的(de)設計制備。

注： 關于臨(lin)界試驗參數選取的信息(xi)請參照附錄A2.

9.4　在選取了臨界試驗參數之后，確保試驗能夠可靠地區分無泄(xie)漏包裝與有缺陷包裝。

9.5　采(cai)用(yong)無泄漏對照試驗包裝和(he)一個已經校準的體(ti)積是氣體(ti)流量檢測儀(yi)確保試驗的靈敏(min)度。

注： 關于試(shi)驗(yan)靈敏度檢驗(yan)步驟的相關信息見(jian)附(fu)錄A2.

9.6　要經常(chang)監(jian)定試(shi)驗的合格性(xing)（見9.4）并(bing)檢驗試(shi)驗的靈敏(min)度（見9.5），通常(chang)是每天至少一次，最好是在每次更(geng)換初期的時(shi)候(hou)。

10　步驟

10.1　為受測(ce)包裝(zhuang)選取并安(an)裝(zhuang)一個(ge)適當大小的試(shi)驗(yan)(yan)腔。對試(shi)驗(yan)(yan)腔做必要(yao)的調整，確保當試(shi)驗(yan)(yan)腔處于密閉位(wei)置時腔蓋（上部裝(zhuang)置）與包裝(zhuang)袋座（下部裝(zhuang)置）密封(feng)良好。

A兩組試驗(yan)(yan)包裝產生10個(ge)“合格”觀察值。有一個(ge)試驗(yan)(yan)室隨后證實(shi)這些包裝上的漏洞已不再(zai)存在并且(qie)已修(xiu)復。在這種情(qing)況下(xia)，如果以5個(ge)試驗(yan)(yan)托盤計算，成功率為78%，如以3個(ge)計算，成功率為*。

10.2　檢(jian)驗電源可(ke)用的(de)壓力級別。檢(jian)查真(zhen)空(kong)源的(de)可(ke)用性。

10.3　為試驗(yan)(yan)儀器設置必(bi)要的試驗(yan)(yan)參數(shu)和接收/拒收準則。

10.4　將組裝的(de)包(bao)裝放入下部裝置內(nei)，封閉試(shi)驗腔。掩蔽并封堵(du)包(bao)裝的(de)多(duo)孔阻(zu)擋層表面。

注： 按(an)照儀器廠(chang)家(jia)建議的(de)步驟，根(gen)據(ju)規律的(de)日(ri)程(cheng)表對掩(yan)蔽或封(feng)堵表面進行檢(jian)查并清洗，以確保有效地掩(yan)蔽多孔(kong)阻(zu)擋層表面。

10.5　開(kai)始試驗。

10.6　記(ji)錄合格/不合格指示儀(yi)或(huo)其它真(zhen)空衰減檢測儀(yi)器的數值(zhi)及文(wen)件結果。標識(shi)并駁回不合格的包裝，以便(bian)進一步(bu)鑒定

10.7　選取另一包裝并重復以上試驗步驟(zou)。

11　報告

11.1　對于每個受測的包裝(zhuang)，要將以下(xia)臨界(jie)參數值和包裝(zhuang)的檢測結果寫入報(bao)告：

11.1.0.1　儲備真空(kong)度(VRes),

11.1.0.2　目標真空度(du)或試驗真空度(du) (Vac),

11.1.0.3　基準真(zhen)空度(VRef),

11.1.0.4　基準充填時間(TfillRef),

11.1.0.5　均衡時(shi)間(jian)(Tequal),

11.1.0.6　真空衰減試(shi)驗時間(jian) (Ttest),

11.1.0.7　基(ji)準真空衰減率接收/拒收界(jie)限 (dP/dt Ref)，以及

11.1.0.8　接收(shou)/拒收(shou)試驗(yan)結果。