真空(kong)衰減法技術允許進行測(ce)試，以非(fei)破(po)壞性和非(fei)侵入性的方式(shi)識別密封容(rong)器中是否存(cun)在(zai)泄(xie)漏(lou)。它(ta)可適用于各種(zhong)空(kong)的/預充式(shi)注射(she)器，水針及粉針瓶(ping)（玻璃/塑料）、灌裝壓蓋瓶(ping)、以及其他硬(ying)質包裝容(rong)器、電器元件等(deng)試樣的無損正、負(fu)壓的微泄(xie)漏(lou)測(ce)試。

測試項目：

1.1 測試包(bao)-可以通過此測試方法(fa)進行非破壞性評估的包(bao)包(bao)括：

1.1.1剛性和半剛性的非滑動托盤。

1.1.2用(yong)多孔(kong)阻(zu)隔蓋材料密封的托(tuo)盤(pan)或杯子(zi)。

1.1.3剛性(xing)無孔包裝(zhuang)。

1.1.4柔性無孔包(bao)裝(zhuang)。

測試要求

1.2.1 托盤或杯子（無蓋）（漏氣）—可以檢測到托盤/杯子直徑至少為50μm的孔或裂紋缺陷。非滑動托盤在–4·E4 Pa（–400 mbar）的目標真空下進行了測試。

1.2.2 用(yong)多(duo)孔阻隔蓋(gai)材料密封(feng)(feng)的(de)(de)(de)托盤(pan)（頂部氣體泄(xie)漏(lou)）-可(ke)以(yi)檢測到(dao)托盤(pan)/杯直徑(jing)至少(shao)為100μm的(de)(de)(de)孔或裂(lie)紋缺(que)(que)陷。可(ke)以(yi)檢測到(dao)密封(feng)(feng)區域中的(de)(de)(de)通道缺(que)(que)陷（使用(yong)直徑(jing)為125μm的(de)(de)(de)導線制成）。可(ke)以(yi)檢測連續(xu)粘(zhan)合劑和(he)點(dian)(dian)矩陣粘(zhan)合劑包裝系統(tong)中的(de)(de)(de)嚴(yan)重密封(feng)(feng)粘(zhan)合缺(que)(que)陷。還(huan)可(ke)以(yi)檢測到(dao)點(dian)(dian)矩陣粘(zhan)合劑的(de)(de)(de)粘(zhan)合不好的(de)(de)(de)缺(que)(que)陷。所(suo)有(you)多(duo)孔阻隔蓋(gai)材料包裝均在–4·E4 Pa（–400 mbar）的(de)(de)(de)目標真空(kong)下進行了測試(shi)。使用(yong)校準(zhun)的(de)(de)(de)體積(ji)空(kong)氣流量計，對帶蓋(gai)的(de)(de)(de)多(duo)孔包裝的(de)(de)(de)測試(shi)靈敏度約為E-2 Pa·m3 ·s-1。

1.2.3 剛性無(wu)孔包裝（頂空(kong)氣(qi)體(ti)泄(xie)漏）—可(ke)以檢(jian)測(ce)到直徑至少為(wei)5μm的(de)(de)(de)孔缺陷(xian)。在(zai)(zai)–5·E4 Pa（–500 mbar）的(de)(de)(de)目(mu)標真空(kong)下測(ce)試了(le)(le)帶螺帽的(de)(de)(de)塑料瓶。使用(yong)校(xiao)準的(de)(de)(de)體(ti)積流量計(ji)，測(ce)試的(de)(de)(de)靈敏度約為(wei)E-3.4 Pa·m3·s-1。充(chong)氣(qi)玻璃注射器在(zai)(zai)–7.5·E4 Pa（絕對值+250 mbar絕對值）的(de)(de)(de)目(mu)標真空(kong)下以及(ji)在(zai)(zai)大約+1 mbar絕對值的(de)(de)(de)目(mu)標真空(kong)下進行了(le)(le)測(ce)試。使用(yong)校(xiao)準的(de)(de)(de)體(ti)積流量計(ji)，兩種測(ce)試的(de)(de)(de)靈敏度均約為(wei)E-4.1 Pa·m 3 ·s -1。

1.2.4 剛性無孔包(bao)裝（液體(ti)泄(xie)漏(lou)）—可以檢測(ce)到(dao)直徑至少為5μm的孔缺陷。使用一群在約+1 mbar絕對(dui)真空(kong)下(xia)測(ce)試(shi)的注(zhu)水(shui)玻璃注(zhu)射器驗證了該(gai)檢測(ce)限。

1.2.5 柔性(xing)無(wu)孔(kong)包裝(zhuang)（氣(qi)體或液(ye)體泄漏）—也可以通過(guo)真空衰減(jian)法測試此(ci)類包裝(zhuang)。盡管大家(jia)知道(dao)使用真空衰減(jian)測試這種軟(ruan)包裝(zhuang)，但在(zai)精度和(he)偏差研究中并未包括(kuo)軟(ruan)包裝(zhuang)的靈敏度數據。

測試結果：

  測試結果(guo)-測試結果(guo)是(shi)定性的(de)（接受/拒(ju)絕）。通過比較從對照，無(wu)泄(xie)漏(lou)包(bao)裝獲得(de)的(de)定量基線真空(kong)衰減測量結果(guo)與使(shi)用泄(xie)漏(lou)包(bao)裝獲得(de)的(de)測量結果(guo)，以及通過使(shi)用校準氣體流量計引入模擬泄(xie)漏(lou)獲得(de)的(de)測量結果(guo)，來建立驗收標準。

檢測儀器：  MLT-V100（T） 微泄漏(lou)無損密封測試儀

   ;     MLT-V100（T） 微(wei)泄(xie)漏(lou)無損密封(feng)測(ce)試(shi)儀(yi)是根據標(biao)準《ASTM F2338 包裝(zhuang)泄(xie)露的(de)標(biao)準檢測(ce)方法—真(zhen)空(kong)衰減法》研發的(de)一款(kuan)專業(ye)用(yong)于醫藥包裝(zhuang)，食品包裝(zhuang)微(wei)泄(xie)漏(lou)檢測(ce)的(de)專業(ye)設(she)備。微(wei)泄(xie)漏(lou)無損密封(feng)測(ce)試(shi)儀(yi)采用(yong)真(zhen)空(kong)無損測(ce)試(shi)方案，基于WINDOWS系統開(kai)發，可適用(yong)于各(ge)種空(kong)的(de)/預(yu)充(chong)式注射器，水針(zhen)及(ji)粉針(zhen)瓶（玻璃(li)/塑料）、灌裝(zhuang)壓蓋瓶、以及(ji)其他硬(ying)質包裝(zhuang)容器、電器元件(jian)等試(shi)樣的(de)無損正、負(fu)壓的(de)微(wei)泄(xie)漏(lou)測(ce)試(shi)。

測試準(zhun)備

1.1 試樣準(zhun)備

測試(shi)前，根據試樣(yang)需準備足夠數(shu)量的待測試樣。待測(ce)試樣在設備所處環境中(zhong)靜置不少于30min。

準(zhun)備校準(zhun)所需的陰性(xing)樣品和陽性(xing)樣品。

1.2 夾(jia)具準(zhun)備(bei)

測試前，需準備與待測試(shi)樣匹配的測試(shi)腔，并用(yong)酒精(jing)等非(fei)腐蝕性液體清潔(jie)測(ce)試腔，晾干(gan)后放(fang)入(ru)測試夾(jia)具中。

1.3 設(she)備(bei)準備(bei)

 1.3.1 設備通(tong)電(dian)，電腦啟動后，雙擊打(da)開(kai)測試軟(ruan)件，顯示通(tong)訊(xun)連接成(cheng)功(gong)，熱機5min。

1.3.2 點擊“系統設(she)置(zhi)"功能，確認測試模式為(wei)所需測試模式（正/負壓），確認后(hou)退出。

 1.3.3 點擊“參(can)數"功能，選擇或設置(zhi)測試參(can)數，注意檢查參(can)數與(yu)測試模式的匹(pi)配(pei)，設置(zhi)，確(que)定(ding)后退出。

1.3.4 測試腔中放入與待測試樣匹配的(de)陰性樣品，閉(bi)合測試腔，點擊(ji)“試驗"按鈕，進(jin)行(xing)測試，檢查(cha)測試進(jin)程是(shi)否符合要求。

1.3.5 重(zhong)復上一步驟至少5次。